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ICP-AES技术也在更新后在ICP光谱仪上的应用
点击次数:0 发布时间:2018-02-01
 

  ICP-AES法在运用上还有一定的缺点,今天ICP光谱仪小编为您介绍ICP-AES法的缺点,和ICP-AES技术也在不断更新后在ICP光谱仪上的应用。

  ICP-AES法是20世纪60年代提出、70年代迅速发展起来的一种新型分析技术。在分析上的应用领域虽然十分广泛,但是还存在着以下缺点:

  (1)对于固体样品一般需预先转化为溶液,而这二过程往往使检出限变高。

  (2)作气体氩气消耗量大导致仪器运行成本增加。

  (3)进样系统雾化效率不高导致部分元素在痕量时无法检出。

  (4)ICP光谱仪发射光谱法只能测定样品中元素的总量,不能对元素进行价态分析,除非和其他分析仪器联用。

  (5)RF发生器电路较复杂,容易产生故障导致仪器停机,并且仪器价格比较高、对实验室要求也高、需要单独的电源和接地以及排风系统,所以前期投入比较大。

  但是随着科学技术的日新月异的发展,ICP-AES技术也在不断跟新,上述缺点正在慢慢改善。

  虚拟仪器技术的应用可使ICP-AES仪器制造厂家维护人员远程连续观测等离子体变化,如果发现等离子体有异常现象,可在第一时间通知用户,使用户采取相应措施来减少仪器故障的发生,对仪器实行了远程诊断。用户通过观测相机,可以在仪器电脑上实时观测等离子体的工作状态,可以实时调节不同的观测位置,进行不同比例缩放,可以录像,得到等离子体的实时状态过程。还可以通过连续的等离子观测,使远程诊断功能成为可能,以最大程度增加正常运行时间。通过该观测相机,可以让操作者清楚地了解样品溶液导致的等离子体变化过程及状态,简化方法建立过程,大大方便操作者对检测方法的开发和仪器工作状态的判断。

  电子雾化器系统通过电子震动原理和惰性喷雾头,可使形成的雾滴直径不大于6um,这样大小的雾滴可快速干燥、雾化和电离,和传统雾化系统相比雾化效果更佳,并为仪器的分析测试的检出限降低了2倍~4倍。该雾化器所产生的气溶胶颗粒具有强烈的一致性并且粒径完全控制在不超过10um以下的很窄范围,不再需要高压雾化气流,可以在现有基础上提高了4倍的信噪比,对于微量元素的检测有更大的好处。

  平板等离子技术的应用代替了螺旋负载线圈系统,氩气的消耗量减少了近1/2。该技术和传统技术相比,可形成同样强健、同样耐高盐基体的等离子体。这种全新的射频方式还可使RF高频发生器免维护,最大程度降低了操作成本并对使用性能没有影响,该技术抛弃了传统的螺旋线圈的设计。在传统的螺旋线圈设计中,线圈需要使用循环水进行冷却,存在多种由于循环水导致的问题,而新的平板等离子体技术采用两块对称的长寿命铝板,无需进行任何冷切,不存在更换问题。

  采用光谱最佳化程序自动寻C.N.Ar线进行峰位校正光谱方程及波长的准确性来代替传统的汞灯描迹定位技术,确保波长重复性,从而确保了更好的分析重复性。

  采用高刻线全息光栅以提高光学系统质量:高刻线(最高可达4960刻线/mm)、大面积的离子蚀刻闪耀全息光栅,可使ICP仪器具有很高的分辨率,具有光强高、散射光极低的光学质量

  以上就是ICP-AES法的缺点,和ICP-AES技术也在更新后在ICP光谱仪上的应用。


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